二手X射線熒光光譜儀ROHS

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儀器實(shí)拍：
 

島津EDX-720Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對(duì)產(chǎn)生的熒光Ｘ射線的能量進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置。可無(wú)損地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤(pán)、單晶片等的元素分析，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。特別是近，以歐盟的報(bào)廢電子電氣設(shè)備指令（WEEE）、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令（RoHS）、報(bào)廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購(gòu)及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。

為滿足這種需求，的EDX-720系列達(dá)到了更高的靈敏度與精度。

二手X射線熒光光譜儀ROHS基本參數(shù)

1.分析元素：11Na-92U（EDX-720），可以準(zhǔn)確檢測(cè)ROHS指令以外其它元素。

2.樣品型狀：大 300mmФ×150mmH ,可以滿足樣品的不規(guī)則性。

3. X射線濾鏡：5種自動(dòng)交換，可以消除背景元素干擾，使儀器分析精度高于其它儀器。

4.能量分辨率：Si/Li檢測(cè)器，145eV.5.檢測(cè)下限：Cd:1.7ppm;Pb:2ppm;Cr:2ppm;Br:2ppm;Hg:2ppm.滿足ROHS 指令和索尼STM-0083標(biāo)準(zhǔn)。6.軟件： 定性分析-測(cè)定/解析軟件。 定量分析-工作曲線法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法

固體、粉末、液體樣品都不需要前處理的非破壞性的簡(jiǎn)便分析。適用快速評(píng)價(jià)RoHS、 ELV法規(guī)限制的有害元素的新裝置！靈敏度比以往機(jī)型提高2倍，使用更方便，提高了篩選分析的效率！ EDX-720

主要特點(diǎn)：

1、配置新型濾光片，提高Pb、Cd等的靈敏度提高2倍。

2、配置高計(jì)數(shù)率電路，增加檢測(cè)器的計(jì)數(shù)量。

3、增加時(shí)間縮短功能，由熒光X射線強(qiáng)度算出測(cè)定精度，自動(dòng)判斷所需少測(cè)定時(shí)間。

4、增加自動(dòng)工作曲線選擇功能，依據(jù)識(shí)別樣品種類的不同而選擇適宜的工作曲線。